0402 紅外分光光度法

紅外分光光度法是在4000～400cm^-1波數(shù)范圍內(nèi)測定物質(zhì)的吸收光譜，用于化合物的鑒別、檢查或含量測定的方法。除部分光學(xué)異構(gòu)體及長鏈烷烴同系物外，幾乎沒有兩個(gè)化合物具有相同的紅外光譜，據(jù)此可以對化合物進(jìn)行定性和結(jié)構(gòu)分析；化合物對紅外輻射的吸收程度與其濃度的關(guān)系符合朗伯-比爾定律，是紅外分光光度法定量分析的依據(jù)。 儀器及其校正 可使用傅里葉變換紅外光譜儀或色散型紅外分光光計(jì)。用聚苯乙烯薄膜（厚度約為0.04mm）校正儀器，繪制其光譜圖，用3027cm^-1，2851cm^-1，1601cm^-1，1028cm^-1，907cm^-1處的吸收峰對儀器的波數(shù)進(jìn)行校正。傅里葉變換紅外光譜儀在3000cm^-1附近的波數(shù)誤差應(yīng)不大于±5cm^-1，在1000cm^-1附近的波數(shù)誤差應(yīng)不大于±lcm^-1。 用聚苯乙烯薄膜校正時(shí)，儀器的分辨率要求在3110～2850cm^-1范圍內(nèi)應(yīng)能清晰地分辨出7個(gè)峰，峰2851cm^-1與谷2870cm^-1之間的分辨深度不小于18%透光率，峰1583cm^-1與谷l589cm^-1之間的分辨深度不小于12%透光率。儀器的標(biāo)稱分辨率，除另有規(guī)定外，應(yīng)不低于2cm^-1。 供試品的制備及測定 通常采用壓片法、糊法、膜法、溶液法和氣體吸收法等進(jìn)行測定。對于吸收特別強(qiáng)烈、或不透明表面上的覆蓋物等供試品，可采用如衰減全反射、漫反射和發(fā)射等紅外光譜方法。對于極微量或需微區(qū)分析的供試品，可采用顯微紅外光譜方法測定。 1.原料藥鑒別 除另有規(guī)定外，應(yīng)按照國家藥典委員會編訂的《藥品紅外光譜集》各卷收載的各光譜圖所規(guī)定的方法制備樣品。具體操作技術(shù)參見《藥品紅外光譜集》的說明。 采用固體制樣技術(shù)時(shí)，常碰到的問題是多晶現(xiàn)象，固體樣品的晶型不同，其紅外光譜往往也會產(chǎn)生差異。當(dāng)供試品的實(shí)測光譜與《藥品紅外光譜集》所收載的標(biāo)準(zhǔn)光譜不一致時(shí)，在排除各種可能影響光譜的外在或人為因素后，應(yīng)按該藥品光譜圖中備注的方法或各品種項(xiàng)下規(guī)定的方法進(jìn)行預(yù)處理，再繪制光譜，比對。如未規(guī)定該品種供藥用的晶型或預(yù)處理方法，則可使用對照品，并采用適當(dāng)?shù)娜軇┰嚻放c對照品在相同的條件下同時(shí)進(jìn)行重結(jié)晶，然后依法繪制光譜，比對。如已規(guī)定特定的藥用晶型，則應(yīng)采用相應(yīng)晶型的對照品依法比對。 當(dāng)采用固體制樣技術(shù)不能滿足鑒別需要時(shí)，可改用溶液法繪制光譜后與對照品在相同條件下繪制的光譜進(jìn)行比對。 2.制劑鑒別 品種鑒別項(xiàng)下應(yīng)明確規(guī)定制劑的前處理方法，通常采用溶劑提取法。提取時(shí)應(yīng)選擇適宜的溶劑，以盡可能減少輔料的干擾，避免導(dǎo)致可能的晶型轉(zhuǎn)變。提取的樣品再經(jīng)適當(dāng)干燥后依法進(jìn)行紅外光譜鑒別。 3.多組分原料藥鑒別 不能采用全光譜比對，可借鑒【附注】“2（3）”的方法，選擇主要成分的若干個(gè)特征譜帶，用于組成相對穩(wěn)定的多組分原料藥的鑒別。 4.晶型、異構(gòu)體限度檢查或含量測定 供試品制備和具體測定方法均按各品種項(xiàng)下有關(guān)規(guī)定操作。 【附注】 1.各品種項(xiàng)下規(guī)定“應(yīng)與對照的圖譜（光譜集XX圖）一致”，系指《藥品紅外光譜集》各卷所載的圖譜。同一化合物的圖譜若在不同卷上均有收載時(shí)，則以后卷所載的圖譜為準(zhǔn)。 2.藥物制劑經(jīng)提取處理并依法繪制光譜，比對時(shí)應(yīng)注意以下四種情況： （1）輔料無干擾，待測成分的晶型不變化，此時(shí)可直接與原料藥的標(biāo)準(zhǔn)光譜進(jìn)行比對； （2）輔料無干擾，但待測成分的晶型有變化，此種情況可用對照品經(jīng)同法處理后的光譜比對； （3）待測成分的晶型無變化，而輔料存在不同程度的干擾，此時(shí)可參照原料藥的標(biāo)準(zhǔn)光譜，在指紋區(qū)內(nèi)選擇3～5個(gè)不受輔料干擾的待測成分的特征譜帶作為鑒別的依據(jù)。鑒別時(shí)，實(shí)測譜帶的波數(shù)誤差應(yīng)小于規(guī)定值的±5cm^-1（0.5%）； （4）待測成分的晶型有變化，輔料也存在干擾，此種情況一般不宜采用紅外光譜鑒別。 3.由于各種型號的儀器性能不同，供試品制備時(shí)研磨程度的差異或吸水程度不同等原因，均會影響光譜的形狀。因此，進(jìn)行光譜比對時(shí)，應(yīng)考慮各種因素可能造成的影響。